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產(chǎn)品展示/ Product display

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半導體器件快速溫變試驗箱

半導體器件快速溫變試驗箱專為滿足半導體芯片、集成電路、分立器件等在溫度環(huán)境下的可靠性測試需求而研發(fā)。采用快速溫變技術(shù)與高精度控制系統(tǒng)，可在短時間內(nèi)實現(xiàn)大幅度的溫度變化，精準模擬半導體器件在實際應(yīng)用中可能遭遇的極寒、高溫等復雜工況，有效檢測器件在溫度驟變下的性能穩(wěn)定性、材料兼容性及結(jié)構(gòu)可靠性，助力半導體企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量，縮短研發(fā)周期，降低潛在失效風險。

  • 產(chǎn)品型號：TEB-600PF
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時間：2025-05-26
  • 訪  問  量：298
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詳細介紹

半導體器件快速溫變試驗箱

一、產(chǎn)品概述

專為滿足半導體芯片、集成電路、分立器件等在溫度環(huán)境下的可靠性測試需求而研發(fā)。采用快速溫變技術(shù)與高精度控制系統(tǒng)，可在短時間內(nèi)實現(xiàn)大幅度的溫度變化，精準模擬半導體器件在實際應(yīng)用中可能遭遇的極寒、高溫等復雜工況，有效檢測器件在溫度驟變下的性能穩(wěn)定性、材料兼容性及結(jié)構(gòu)可靠性，助力半導體企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量，縮短研發(fā)周期，降低潛在失效風險，為半導體產(chǎn)業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)品迭代提供可靠的測試保障。



半導體器件快速溫變試驗箱

二、產(chǎn)品用途

本試驗箱主要用于半導體器件的環(huán)境應(yīng)力篩選與可靠性驗證。通過模擬 -70℃至 150℃的快速溫度變化，可檢測芯片封裝的熱應(yīng)力開裂、焊點疲勞失效、材料熱膨脹系數(shù)不匹配等問題；評估集成電路在溫度下的電性能參數(shù)（如閾值電壓、漏電流、頻率特性）變化情況；驗證分立器件（如二極管、晶體管）的溫度敏感性與長期穩(wěn)定性，為半導體器件的設(shè)計優(yōu)化、工藝改進及質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。
三、技術(shù)參數(shù)

  1. 溫度范圍：高溫區(qū)：RT +10℃～150℃；低溫區(qū)：-70℃～RT -10℃，覆蓋半導體器件全生命周期的溫度測試需求。

  1. 溫變速率：線性升溫速率≥5℃/min，線性降溫速率≥5℃/min；非線性溫變可達 20℃/min，滿足不同測試場景的快速溫變要求。

  1. 溫度波動度：±0.5℃，確保測試過程中溫度的穩(wěn)定性，減少實驗誤差。

  1. 溫度均勻度：±2℃，使箱內(nèi)各區(qū)域溫度一致，保證測試結(jié)果的一致性與可靠性。

  1. 工作室尺寸：標準規(guī)格 600×600×600mm（寬 × 深 × 高），可根據(jù)客戶需求定制，適配不同尺寸半導體器件測試。

  1. 安全保護：具備超溫保護、壓縮機過載保護、漏電保護、斷水保護等多重安全防護機制，保障設(shè)備與人員安全。



四、溫變系統(tǒng)

  1. 制冷系統(tǒng)：采用二元復疊式制冷技術(shù)，搭配德國谷輪高效壓縮機與環(huán)保制冷劑，實現(xiàn)超低溫穩(wěn)定輸出；智能變頻調(diào)節(jié)，根據(jù)溫變需求自動調(diào)整制冷功率，節(jié)能高效。

  1. 加熱系統(tǒng)：鎳鉻合金電加熱絲結(jié)合 PID 智能控溫算法，升溫快速且精準，確保高溫環(huán)境穩(wěn)定維持。

  1. 氣流循環(huán)系統(tǒng)：多翼式離心風機與優(yōu)化風道設(shè)計，強制空氣循環(huán)，加速溫變過程，使箱內(nèi)溫度快速均勻分布，提升測試效率。


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