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產(chǎn)品展示/ Product display
電子電器高低溫試驗(yàn)箱 元器件耐候性測試主要用于檢測電阻、電容、晶體管等電子元器件在高低溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與可靠性,驗(yàn)證其抗老化、耐溫差、耐潮濕能力。適用于電子電器研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié),幫助企業(yè)提前暴露元器件潛在缺陷,優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì),確保電子產(chǎn)品在極寒、高溫、高濕等復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行。
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電子電器高低溫試驗(yàn)箱 元器件耐候性測試
一、產(chǎn)品詳情
電子電器高低溫試驗(yàn)箱 元器件耐候性測試
三、技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:-70℃~150℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃,均勻度 ±2℃
升降溫速率:5℃/min - 15℃/min(可定制)
濕度范圍:20%~98% RH(選配),濕度波動(dòng)度 ±2% RH
內(nèi)膽尺寸:500×600×500mm(支持非標(biāo)定制)
電源:AC380V±10%,50Hz
安全保護(hù):超溫報(bào)警、壓縮機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)、缺水保護(hù)(加濕款)
五、加濕系統(tǒng)(選配)
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