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產(chǎn)品展示/ Product display

  • TSD-36F-2P皓天鑫設(shè)備 兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    皓天鑫設(shè)備 兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

    更新時(shí)間

    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-36F-2P

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    331

  • TSD-100F-2P兩槽式高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    兩槽式高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

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    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-100F-2P

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  • TSD-480PF-2P兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 恒溫恒濕箱

    兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 恒溫恒濕箱 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

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    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-480PF-2P

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  • TSD-36F-2P高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 性能穩(wěn)定

    高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 性能穩(wěn)定 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

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    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-36F-2P

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  • TSD-80F-2P智能兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 皓天鑫

    智能兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 皓天鑫 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

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    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-80F-2P

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  • TSD-36F-2P兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 支持定制 可程式

    兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 支持定制 可程式 電子芯片lC、半導(dǎo)體材料陶磁及纖維材料之物理學(xué)性轉(zhuǎn)變,檢測(cè)其原材料對(duì)高低溫試驗(yàn)的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學(xué)反應(yīng)或物理傷害,可確定商品的質(zhì)量,從高精密lC到重機(jī)械的部件。

    更新時(shí)間

    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD-36F-2P

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    502

  • TSD- 80F-2P可程式 快速冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    可程式 快速冷熱沖擊試驗(yàn)箱 兩箱設(shè)備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)。

    更新時(shí)間

    2025-03-19

    設(shè)備型號(hào)

    TSD- 80F-2P

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  • 電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性測(cè)試設(shè)備

    電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性測(cè)試設(shè)備專為電子行業(yè)設(shè)計(jì),用于模擬電子元器件在溫度環(huán)境下的快速冷熱交替工況,精準(zhǔn)檢測(cè)其可靠性與穩(wěn)定性。設(shè)備采用三廂式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),包含高溫箱、低溫箱和測(cè)試箱,通過氣動(dòng)風(fēng)門切換,實(shí)現(xiàn)樣品在高低溫環(huán)境間的快速轉(zhuǎn)移。外殼選用高強(qiáng)度冷軋鋼板,經(jīng)表面噴塑處理,具備良好的防銹、防腐蝕性能;內(nèi)部工作室采用 SUS304 不銹鋼材質(zhì),耐高低溫、無(wú)污染,確保測(cè)試環(huán)境純凈。

    更新時(shí)間

    2025-05-17

    設(shè)備型號(hào)

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    510

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